3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-11-10

簡(jiǎn)要描述：

3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?25/50 MHz 測(cè)試頻率
?25/50 Mbps data rate
?256 logic I/O pins
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購(gòu)） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

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3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

25/50 MHz 測(cè)試頻率
25/50 Mbps data rate
256 logic I/O pins
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
Real parallel Trim/Match 功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
AD/DA卡選配 (16 ~24 bits)
SCAN 測(cè)試選配 (max 512M/chain)
ALPG 測(cè)試選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言

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