3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-11-10

簡(jiǎn)要描述：

3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?50/100 MHz 測(cè)試頻率
?50/100 Mbps data rate
?1024 I/O pins （Z高可至1280 I/O pins）
?平行測(cè)試可達(dá)1024 sites
?32/64 M pattern 記憶體

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3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

50/100 MHz 測(cè)試頻率
50/100 Mbps data rate
1024 I/O pins (zui高可至1280 I/O pins)
平行測(cè)試可達(dá)1024 sites
32/64 M pattern 記憶體
多樣彈性 VI 電源
彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA,)
Real parallel trim/match 功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
AD/DA 功能卡選配
SCAN 測(cè)試功能選配 (zui高 1G M/chain)
ALPG 測(cè)試選配供記憶體IC用
STDF 工具支援
測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化 Window 7操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
程式語(yǔ)言同 3380P & 3360P

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